磁性涂層測(cè)厚儀是研發(fā)的新產(chǎn)品，是一種小型便攜式儀器，磁性測(cè)厚儀也稱(chēng)涂層測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀。

為了方便客戶(hù)使用涂層測(cè)厚儀現(xiàn)歸納以下磁性涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量的若干因素如下：

1、基體金屬磁性變化。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。

2、測(cè)量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過(guò)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

3、邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不的，校對(duì)試片盡量在試片中間以減少誤差。

4、磁性涂層測(cè)厚儀測(cè)量件曲率，試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

5、被測(cè)物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。

6、磁場(chǎng)，被測(cè)物體周?chē)艌?chǎng)會(huì)干擾磁性測(cè)量，影響涂層測(cè)厚儀精度。

7、附著物質(zhì)，本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

8、測(cè)量過(guò)程中探頭的放置，探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。這是涂層測(cè)厚儀（其他測(cè)厚儀，如超聲波測(cè)厚儀也是這樣）測(cè)量中要注意的問(wèn)題。

9、試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)一定的誤差。

10、測(cè)量次數(shù)，對(duì)于數(shù)據(jù)要求經(jīng)度比較高的測(cè)量要實(shí)行多次測(cè)量求平均值，精度要求更高的可以多臺(tái)儀器測(cè)量求平均值。

綜上所述，磁性涂層測(cè)厚儀（包括其它測(cè)厚儀）是允許一定誤差的，一般為3%，超過(guò)5%就是儀器本身有問(wèn)題了。

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